技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES在第四紀(jì)地質(zhì)學(xué)與環(huán)境演變研究中，風(fēng)成黃土、河流相砂、湖相沉積物和海岸沙丘的可靠定年是重建古氣候與古環(huán)境變遷的基石；而在考古學(xué)中，陶片、燒土、石器表面受熱事件年代的判定，直接關(guān)系文化層的年代框架。當(dāng)碳十四測(cè)年超出有效范圍（通常＞5萬年）或樣品有機(jī)質(zhì)匱乏時(shí)，光釋光（OSL）與熱釋光（TL）測(cè)年技術(shù)便成為不可替代的"時(shí)光標(biāo)尺"。作為該技術(shù)的核心裝備，釋光測(cè)試儀的選型是否得當(dāng)，直接決定實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可信度與科研產(chǎn)出效率。一、看激發(fā)光源配置——石英與長石雙礦物研究的剛需釋光測(cè)年中，石英礦物...
在材料科學(xué)、化學(xué)、物理及地質(zhì)等前沿科研領(lǐng)域，如何精準(zhǔn)、高效地解析物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，一直是科學(xué)家們追求的目標(biāo)。束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司，作為布魯克AXS公司的優(yōu)質(zhì)合作伙伴，為您帶來一款能夠徹底改變實(shí)驗(yàn)體驗(yàn)的科研利器——布魯克D8ADVANCEX射線衍射儀。它不僅是解碼材料微觀世界的“通用指紋識(shí)別器”，更是您科研道路上值得信賴的伙伴。顛覆性創(chuàng)新，讓復(fù)雜變簡單傳統(tǒng)的X射線衍射儀在面對(duì)不同類型的樣品和應(yīng)用時(shí)，往往需要繁瑣的光路切換和重新對(duì)光，耗時(shí)且易出錯(cuò)。布魯克D8ADVANCE徹底顛...
在新材料研發(fā)、半導(dǎo)體制造、醫(yī)藥化工、地質(zhì)礦產(chǎn)等眾多領(lǐng)域，物相鑒定、晶體結(jié)構(gòu)解析、薄膜性能表征是把控產(chǎn)品質(zhì)量、推動(dòng)技術(shù)突破的核心環(huán)節(jié)。作為材料表征領(lǐng)域的主流精密設(shè)備，X射線衍射儀憑借非破壞性、高精度的檢測(cè)特性，已成為各大實(shí)驗(yàn)室與工業(yè)產(chǎn)線質(zhì)檢環(huán)節(jié)不可少的核心分析工具。一、什么是X射線衍射儀？X射線衍射儀（簡稱XRD）是利用X射線在晶體材料中產(chǎn)生的衍射效應(yīng)，采集樣品的衍射圖譜，進(jìn)而解析材料物相組成、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、殘余應(yīng)力等微觀信息的精密分析儀器。其核心原理基于布拉格衍射定律：...
布魯克X射線部門朱性齊薄膜是器件的一種表現(xiàn)形式。多晶薄膜宏觀應(yīng)力的測(cè)試需求越來越多。下面總結(jié)了兩種多晶薄膜的宏觀應(yīng)力測(cè)試方法。一、薄膜應(yīng)力測(cè)試方法一通過掠入射X射線衍射(GID)的方法獲得5個(gè)以上衍射峰的峰位置，然后以應(yīng)變strain為縱軸，以sin2ψ為橫軸，使用Leptos軟件擬合后得到應(yīng)力值。這種測(cè)試方法對(duì)儀器硬件的要求是可以滿足GID測(cè)試即可（次級(jí)光路有一個(gè)赤道索拉+探測(cè)器具有0維模式即可滿足，主光路使用發(fā)散狹縫或者Goebel鏡均可）。以Fe基底上的TiCrN鍍層為...
布魯克X射線部門王金波時(shí)光倏忽，2026上半年已結(jié)束，2026年下半年曙光將至?；赝麃砺?，每一次突破皆如竹拔節(jié)；展望新程，更需“百尺竿頭，更進(jìn)一步”般的深耕探索。而三維X射線顯微鏡（XRM），正是助力科研人穿透表象、直抵重心，在微觀世界再攀新高的硬核“攀登杖”。一、如竹之“透”：無損穿透，直抵重心竹質(zhì)堅(jiān)韌卻透光見中空，XRM同樣具備這般穿透之力。依托先進(jìn)X射線成像技術(shù)，無需破壞即可穿透樣品，直達(dá)微觀中心，完整保留樣品狀態(tài)，精確支撐工業(yè)缺陷排查與科研精細(xì)觀察?！剪斂薠RM獲取...
在半導(dǎo)體芯片的納米級(jí)互連層中，在催化劑活性位點(diǎn)的原子排列中，在腐蝕防護(hù)涂層與基體金屬的結(jié)合界面上，隱藏著決定材料性能的密碼。傳統(tǒng)分析技術(shù)往往受限于探測(cè)深度，難以觸及這些至關(guān)重要的表層信息。此時(shí)，俄歇電子能譜儀便以其表層靈敏度和元素識(shí)別能力，成為材料科學(xué)家探索表面微觀世界的“原子探針”。什么是俄歇電子能譜儀？俄歇電子能譜儀是一種基于俄歇效應(yīng)的表面分析技術(shù)。當(dāng)入射電子束轟擊樣品表面時(shí)，內(nèi)層電子被激發(fā)形成空穴，外層電子躍遷填補(bǔ)空穴并釋放出多余能量，這部分能量促使第二個(gè)外層電子電離發(fā)...
隨著新材料研發(fā)、半導(dǎo)體制程升級(jí)、生物醫(yī)藥研究向分子級(jí)縱深推進(jìn)，樣品表面與界面的成分、結(jié)構(gòu)表征逐漸成為技術(shù)突破的核心環(huán)節(jié)。在眾多表面分析技術(shù)中，飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）憑借超高靈敏度、納米級(jí)空間分辨率與三維分析能力，成為微觀表征領(lǐng)域的核心設(shè)備，廣泛應(yīng)用于科研與工業(yè)檢測(cè)場(chǎng)景。一、什么是TOF-SIMS質(zhì)譜儀TOF-SIMS全稱為飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀（Time-of-FlightSecondaryIonMassSpectrometry），是一種高分辨的表面分析技...
在半導(dǎo)體與材料科學(xué)的精密世界里，有一項(xiàng)技術(shù)如同“元素偵Tan”，能夠捕捉到材料中億分之一級(jí)別的痕量元素——這就是動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（D-SIMS）。今天，讓我們一同走進(jìn)這項(xiàng)尖端技術(shù)，并了解束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司如何將其引入中國市場(chǎng)，助力國內(nèi)科研與產(chǎn)業(yè)發(fā)展。什么是動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀？動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀（DynamicSecondaryIonMassSpectrometry，簡稱D-SIMS）是一種用于固體材料成分分析的高靈敏度表面分析技術(shù)。它通過對(duì)材料表面進(jìn)行逐層剝離并實(shí)時(shí)分...
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