技術文章
TECHNICAL ARTICLES應用分享-晶體日記(二十八)布魯克X射線部門張振義單晶XRD測試的重要目標是獲取精確的晶體結構,重要邏輯很直接:晶體質量直接決定結果的可靠性——一顆高質量單晶,是避免分析誤差的關鍵保障。對于“單晶數(shù)據(jù)”,很多人會想到hkl(如sca、mtz格式)文件,但這類文件的重要問題是:它們并非原始數(shù)據(jù)。如果hkl文件經(jīng)過過度修飾甚至造假,可能會呈現(xiàn)出Rint低、I/Sigma高的“指標”,但實際存在的問題根本無法通過這些數(shù)字體現(xiàn)。所以千萬別單憑這兩個參數(shù),就斷定測試的“晶體”是優(yōu)異單晶...
一、行業(yè)發(fā)展趨勢2026年,中國X射線衍射儀行業(yè)正處于從規(guī)模擴張向質量效益轉型的關鍵階段。數(shù)據(jù)顯示,2025年中國X射線衍射儀行業(yè)市場規(guī)模達21.31億元,同比增長5.60%。與此同時,全球X射線衍射儀市場亦保持穩(wěn)健增長,2024年全球銷量達2765臺,預計2026年至2032年期間年復合增長率約為5.5%。當前行業(yè)發(fā)展呈現(xiàn)三大趨勢:其一,智能化與自動化加速滲透。?AI算法逐步融入XRD設備全流程,通過機器學習實現(xiàn)測試參數(shù)的自動優(yōu)化,數(shù)據(jù)采集時間較傳統(tǒng)模式縮短50%,誤差率降...
應用分享-晶體日記(二十七):APEX6隨寫-合成倒空間層面圖布魯克X射線部門張振義近期,慶幸地看到,越來越多的老師開始用原始的衍射數(shù)據(jù)來分析問題,討論問題總算不是天天無聊的checkcif。倒空間雖然抽象,但是在現(xiàn)代的數(shù)據(jù)采集中已經(jīng)具象化了。它本身也不是一串空洞的數(shù)字,所以不要動不動就用經(jīng)過刪減,用“美顏”后的hkl來說事情。APEX6的Examinedata-SynthesizePrecessionImages是個很有用的功能,來分析倒空間的衍射情況。一、什么是Prece...
應用分享-結構柔性解決方案MOF材料的環(huán)境與非環(huán)境衍射變化監(jiān)測—致敬諾獎獲得者及其突破性成果布魯克X射線部門孟璐2025年諾貝爾化學獎授予北川進(SusumuKitagawa)、理查德·羅布森(RichardRobson)和奧馬爾·M·亞吉(OmarM.Yaghi),以表彰他們“在金屬有機框架領域的發(fā)展”。日本京都大學的北川進(SusumuKitagawa)生于1951年,專注于金屬有機框架材料的基礎研究和應用開發(fā)。理查德·羅布森(RichardRobson)就職澳大利亞墨爾...
在材料科學、地質勘探及增材制造等領域,對樣品內部微觀結構進行無損、高分辨率的三維成像與定量分析,是推動研究深入與工藝優(yōu)化的關鍵。傳統(tǒng)二維切片或破壞性檢測方法,往往丟失空間信息且無法還原真實結構。Skyscan2214高分辨率CT-X射線顯微成像系統(tǒng)(3D-XRM)由布魯克(Bruker)推出,作為顯微CT技術的旗艦產(chǎn)品,實現(xiàn)了優(yōu)于500納米的實際空間分辨率,為多領域研究者提供了一個性能強、適用性廣泛的亞微米級成像平臺。一、核心優(yōu)勢:分辨率與多場景適用性突破性的納米級分辨率Sk...
在材料科學、地質勘探、電子制造及建筑工程等前沿領域,科研與工業(yè)檢測的深層痛點往往在于:如何在不破壞珍貴或大體積樣品的前提下,精準“看見”其內部真實的三維微觀結構?傳統(tǒng)的破壞性或二維檢測手段,不僅耗時耗力,更難以還原樣品內部復雜的空間拓撲關系。為此,束蘊儀器(上海)有限公司作為布魯克(Bruker)授權分銷商,隆重推出實驗室級多量程納米斷層掃描系統(tǒng)——SkyScan2214X射線顯微成像系統(tǒng)(3D-XRM)。它以無損、納米級、多尺度適配的三維成像能力,助力科研人員與工程師揭開微...
在材料科學、化學、制藥及地質等研究領域中,多晶X射線衍射儀(XRD)是解析晶體結構、進行物相定性與定量分析的核心工具。面對設備采購,實驗室往往首先遇到一個基礎但關鍵的問題:選擇臺式還是落地式?束蘊儀器(上海)有限公司代理的德國布魯克(Bruker)D2PHASER(臺式)與D8系列(落地式),分別精準覆蓋了不同層級的需求。本文將從應用場景、性能特點及實驗室條件三個維度,為您提供清晰的選購思路。一、空間與基建:臺式機D2PHASER的“即插即用”優(yōu)勢如果您的實驗室空間有限,或希...
束蘊儀器(上海)有限公司的MDpictspro高分辨率變溫少子壽命測試儀,是面向半導體材料深層缺陷分析與電學表征的科研利器。該系統(tǒng)基于成熟的微波探測光電導(MDP)技術,為材料研發(fā)與工藝優(yōu)化提供了非接觸式的精準測量方案。一、核心產(chǎn)品定位MDpictspro?是一款全自動、高分辨率的變溫測試系統(tǒng),專為半導體材料電輸運特性的深度研究而設計。它不僅能完成常規(guī)的少子壽命(τ)與光電導率(σ)測繪,更通過變溫瞬態(tài)分析(類似DLTS原理),實現(xiàn)對深能級缺陷的活化能與俘獲截面的定量表征。適...
掃一掃,關注公眾號
服務電話:
021-34685181
上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com