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根據微區(qū)分析能力和數據處理方式的不同，二次離子質譜儀可分為以下幾種類型：1、非成像型離子探針特點：主要用于對側向均勻分布樣品的縱向剖析或對樣品最外表面層進行特殊研究。應用場景：適用于對樣品特定區(qū)域的元素組成和結構進行分析，例如對材料某一深度處的元素分布情況進行檢測。2、掃描成像型離子探針特點：利用束斑直徑小于10μm的一次離子束在樣品表面作電視形式的光柵掃描，實現成像和元素分析。應用場景：能夠獲取樣品表面的元素分布圖像，對于研究樣品表面元素的均勻性和分布規(guī)律具有重要意義，常用...

傅里葉變換核磁共振(NMR)儀是一種精密的科學儀器，廣泛用于化學、生物醫(yī)學和材料科學等領域。為了確保其長期穩(wěn)定性和準確性，必須進行細致的養(yǎng)護。以下是傅里葉變換核磁共振儀的養(yǎng)護細節(jié)：一、環(huán)境控制1.溫度與濕度傅里葉變換核磁共振儀應安裝在溫度穩(wěn)定的環(huán)境中，理想溫度范圍為18-25℃。避免儀器暴露在溫度劇烈變化的環(huán)境中，以防止內部元件受損。濕度控制在40%-60%為宜。過高的濕度可能導致電子元件受潮短路，而過低的濕度可能引發(fā)靜電干擾。2.無塵環(huán)境NMR儀應放置在無塵環(huán)境中，避免灰塵...

對于復雜地質樣品，電子多晶X射線衍射儀（XRD）是一種非常有效的分離和鑒定工具。以下是使用XRD對復雜地質樣品進行有效分離和鑒定的一般步驟：一、樣品準備1、粉碎與研磨首先將復雜地質樣品粉碎成細顆粒，通常需要使用研缽和研杵，或者球磨機等設備。粉碎后的顆粒尺寸應符合XRD分析的要求，一般在微米級別，這樣能保證樣品具有足夠的表面積，使X射線能夠充分照射到晶體的各個面，獲得準確的衍射信息。2、篩分與提純（可選）根據樣品的性質和研究目的，可能需要進行篩分以分離出特定粒徑范圍的顆粒。如果...

BiasMDP技術搭配MDPmap設備，開啟表面鈍化檢測新方式在能源產業(yè)蓬勃發(fā)展的當下，追求更高效率的太陽能電池成為行業(yè)核心目標。而這其中，表面鈍化技術的優(yōu)劣起著決定性作用。要深入理解和優(yōu)化表面鈍化，精準測量固定電荷和界面缺陷密度這兩個關鍵參數至關重要。為大家介紹一項行業(yè)變革的創(chuàng)新技術——基于微波探測光電導衰減法（MDP）的BiasMDP技術，這一技術在實驗測量環(huán)節(jié)，FreibergInstruments公司的MDPmap型號設備發(fā)揮了重要作用。在BiasMDP技術出現之前，...

MDP技術-硅錠質量評估的“透視眼”在光伏生產鏈中，硅錠材料質量評估對晶體生長者優(yōu)化結晶過程、電池、芯片制造商篩選材料以降本增效極為重要。傳統(tǒng)依賴最終效率的反饋方式存在諸多不足，MDP技術則為早期質量評估提供了新途徑。FreibergInstruments相關技術或設備助力實現用MDP技術在硅磚四個側面以1mm分辨率測量空間壽命和電阻率圖像。這種測量具有非接觸、可在線操作且無需校準的優(yōu)勢。MDP技術能夠對晶錠的空間分辨載流子壽命和電阻率進行測量，其測量過程為非接觸式，可在生產...

由來自國家食品藥品監(jiān)督管理局相關重點實驗室、中國藥科大學、中國科學院上海藥物研究所等機構的眾多科研人員組成的團隊，結合體外溶出實驗與三維X射線斷層掃描結構表征的研究方法，開展了甲磺酸多沙唑嗪緩釋片相關研究。文章中，研究人員運用Bruker納米級三維X射線顯微鏡（NanoCT）SkyScan2214剖析了藥物結構與釋放動力學關系，為口服控釋仿制藥研發(fā)和質量控制提供了重要依據。該文章于2024年9月21日成功發(fā)表于AsianJournalofPharmaceuticalScien...

lexsyg釋光探測器||在地質測年領域應用分享突破測年極限！紫光激發(fā)發(fā)光技術新進展，lexsyg系統(tǒng)助力古老沉積物測年研究這篇由牛津大學與伍倫貢大學聯合團隊發(fā)表的研究，為石英測年技術帶來了重要突破。團隊使用德國FreibergInstruments的lexsygresearchsystem高精度發(fā)光測量系統(tǒng)，對紫色受激發(fā)光（VSL）測年法展開系統(tǒng)性驗證，揭示了該技術在突破傳統(tǒng)測年上限中的潛力與挑戰(zhàn)。創(chuàng)新實驗設計研究選取歐洲4處考古遺址樣本（年代跨度40-900ka），通過對...

在半導體材料的研究與應用中，缺陷表征至關重要。特別是在中子嬗變摻雜（NTD）硅的處理過程中，了解其輻射誘導缺陷對于優(yōu)化退火條件、提升材料性能意義非凡。FreibergInstruments公司的微波探測光致電流瞬態(tài)光譜法（MDPICTS）技術（如圖1），為這一領域帶來了新的突破，展現出諸多傳統(tǒng)技術難以企及的優(yōu)點。NTD硅，因能實現極低的電阻率變化，在大面積輻射探測器制造中占據重要地位。然而，摻雜后的硅晶體因輻射產生大量缺陷，實際電阻率遠超預期，退火成為必要環(huán)節(jié)。在此過程中，準...