技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES在材料研發(fā)、藥物晶型與半導(dǎo)體薄膜的實驗室里，“一種儀器能否覆蓋粉末—塊體—薄膜—非環(huán)境”，直接決定課題組要不要為不同樣品買多臺XRD。束蘊儀器（上海）代理的德國BRUKERD8DISCOVER旗艦多功能X射線衍射儀（粉末衍射儀），以模塊化前沿組件把“常規(guī)物相+薄膜+原位總散射”擰成一體，成為高校、藥企與新能源研發(fā)的“一機多能”標(biāo)準(zhǔn)。??TRIO三光路自動切換：粉末/薄膜/毛細(xì)管全拿下D8DISCOVER的“靈魂”是TRIO光學(xué)+SNAP-LOCK免對光：軟件一鍵在三種幾何間自...
布魯克X射線部門王金波微觀成像領(lǐng)域里，“分辨率”是看細(xì)節(jié)的“放大鏡”，“高質(zhì)量”是科研檢測的“硬底氣”。想看清木材內(nèi)部的年輪秘密、細(xì)胞排布，或是肉眼難辨的小缺陷，一臺看得清、掃得穩(wěn)的設(shè)備不可少。布魯克X4Poseidon三維X射線顯微鏡，像“海神”般穿透樣品“外衣”，憑高級高分辨率和穩(wěn)定成像，把樣品微觀細(xì)節(jié)拍得明明白白，刷新臺式X射線顯微成像的天花板！極致細(xì)節(jié)"/▲局部放大高分辨率成像一、高分辨率黑科技：大樣品也可直達微米級，解鎖木材的“小肌理”木材內(nèi)部結(jié)構(gòu)藏著大講究——年輪...
應(yīng)用分享-晶體日記（三十）布魯克X射線部門張振義跟晶體打交道久了，就會發(fā)現(xiàn)我們總歸生活在一個充滿不完美的世界。只不過不完美的比例，在每個人的手中不同罷了。沒有完美的晶體，好做的晶體只不過是瑕疵少一點，數(shù)據(jù)看起來和書本上基本差不多。但是不完美的晶體，衍射得到的數(shù)據(jù)也總是不完美的。不完美的數(shù)據(jù)，按照完美的算法進行計算，那么得到的結(jié)果就可能偏差較大了。晶體學(xué)的數(shù)據(jù)處理軟件，大都大同小異，重要的原理和算法基本也都一致，無外乎是哪些方程做了調(diào)整，哪些參數(shù)做了修改。追求得到更好的結(jié)果，或...
在第四紀(jì)地質(zhì)學(xué)與環(huán)境演變研究中，風(fēng)成黃土、河流相砂、湖相沉積物和海岸沙丘的可靠定年是重建古氣候與古環(huán)境變遷的基石；而在考古學(xué)中，陶片、燒土、石器表面受熱事件年代的判定，直接關(guān)系文化層的年代框架。當(dāng)碳十四測年超出有效范圍（通常＞5萬年）或樣品有機質(zhì)匱乏時，光釋光（OSL）與熱釋光（TL）測年技術(shù)便成為不可替代的"時光標(biāo)尺"。作為該技術(shù)的核心裝備，釋光測試儀的選型是否得當(dāng)，直接決定實驗數(shù)據(jù)的可信度與科研產(chǎn)出效率。一、看激發(fā)光源配置——石英與長石雙礦物研究的剛需釋光測年中，石英礦物...
在材料科學(xué)、化學(xué)、物理及地質(zhì)等前沿科研領(lǐng)域，如何精準(zhǔn)、高效地解析物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，一直是科學(xué)家們追求的目標(biāo)。束蘊儀器（上海）有限公司，作為布魯克AXS公司的優(yōu)質(zhì)合作伙伴，為您帶來一款能夠徹底改變實驗體驗的科研利器——布魯克D8ADVANCEX射線衍射儀。它不僅是解碼材料微觀世界的“通用指紋識別器”，更是您科研道路上值得信賴的伙伴。顛覆性創(chuàng)新，讓復(fù)雜變簡單傳統(tǒng)的X射線衍射儀在面對不同類型的樣品和應(yīng)用時，往往需要繁瑣的光路切換和重新對光，耗時且易出錯。布魯克D8ADVANCE徹底顛...
在新材料研發(fā)、半導(dǎo)體制造、醫(yī)藥化工、地質(zhì)礦產(chǎn)等眾多領(lǐng)域，物相鑒定、晶體結(jié)構(gòu)解析、薄膜性能表征是把控產(chǎn)品質(zhì)量、推動技術(shù)突破的核心環(huán)節(jié)。作為材料表征領(lǐng)域的主流精密設(shè)備，X射線衍射儀憑借非破壞性、高精度的檢測特性，已成為各大實驗室與工業(yè)產(chǎn)線質(zhì)檢環(huán)節(jié)不可少的核心分析工具。一、什么是X射線衍射儀？X射線衍射儀（簡稱XRD）是利用X射線在晶體材料中產(chǎn)生的衍射效應(yīng)，采集樣品的衍射圖譜，進而解析材料物相組成、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸、殘余應(yīng)力等微觀信息的精密分析儀器。其核心原理基于布拉格衍射定律：...
布魯克X射線部門朱性齊薄膜是器件的一種表現(xiàn)形式。多晶薄膜宏觀應(yīng)力的測試需求越來越多。下面總結(jié)了兩種多晶薄膜的宏觀應(yīng)力測試方法。一、薄膜應(yīng)力測試方法一通過掠入射X射線衍射(GID)的方法獲得5個以上衍射峰的峰位置，然后以應(yīng)變strain為縱軸，以sin2ψ為橫軸，使用Leptos軟件擬合后得到應(yīng)力值。這種測試方法對儀器硬件的要求是可以滿足GID測試即可（次級光路有一個赤道索拉+探測器具有0維模式即可滿足，主光路使用發(fā)散狹縫或者Goebel鏡均可）。以Fe基底上的TiCrN鍍層為...
布魯克X射線部門王金波時光倏忽，2026上半年已結(jié)束，2026年下半年曙光將至?；赝麃砺?，每一次突破皆如竹拔節(jié)；展望新程，更需“百尺竿頭，更進一步”般的深耕探索。而三維X射線顯微鏡（XRM），正是助力科研人穿透表象、直抵重心，在微觀世界再攀新高的硬核“攀登杖”。一、如竹之“透”：無損穿透，直抵重心竹質(zhì)堅韌卻透光見中空，XRM同樣具備這般穿透之力。依托先進X射線成像技術(shù)，無需破壞即可穿透樣品，直達微觀中心，完整保留樣品狀態(tài)，精確支撐工業(yè)缺陷排查與科研精細(xì)觀察?！剪斂薠RM獲取...
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