布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以進(jìn)行多晶X射線衍射儀檢測(cè)。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2026-07-13

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：4368

產(chǎn)品咨詢 17621138977

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

三維X射線顯微鏡（XRM）

粉末衍射儀高分辨率CT X射線全自動(dòng)化單晶定向儀 SKYSCAN 2214 CMOS版 D8 X射線衍射儀

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

布魯克D8 X射線衍射儀：解鎖材料微觀奧秘的“黃金鑰匙”

深度解析 X射線衍射儀：束蘊(yùn)儀器攜布魯克 D8 ADVANCE 賦能產(chǎn)業(yè)升級(jí)

多晶X射線衍射儀：解碼材料微觀世界的“通用指紋識(shí)別器”

衍射儀的樣品適配范圍有哪些？固體、粉末、薄膜樣品是否都能檢測(cè)？

詳細(xì)介紹在線留言

多晶X射線衍射儀檢測(cè)

項(xiàng)目	細(xì)則	收費(fèi)	說(shuō)明
單掃一張圖譜	看d值，相對(duì)強(qiáng)度，不包括物相分析；每樣每次長(zhǎng)15min，延長(zhǎng)時(shí)間按100元15min計(jì)，不足15min按15min計(jì)	/	1.長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)（大于5h）、復(fù)雜樣品等特殊測(cè)試，價(jià)格需面議
晶胞參數(shù)測(cè)定	已知的純物相，掃描時(shí)間≤30min；掃描時(shí)間超過(guò)30min，延長(zhǎng)時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
晶粒尺寸測(cè)定	已知的純物相，掃描時(shí)間≤30min；掃描時(shí)間超過(guò)30min，延長(zhǎng)時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
高分子結(jié)晶度測(cè)試	已知的確定物相，掃描時(shí)間≤1h；掃描時(shí)間超過(guò)1h，延長(zhǎng)時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
階梯掃描法	/	/
物相半定量	僅限于兩種已知物相，掃描時(shí)間≤1h；掃描時(shí)間大于1h，延長(zhǎng)時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)；多出物相，另加100元/相	/

多晶X射線衍射儀檢測(cè)

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問(wèn)題從此成為歷史！
高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度，布魯克AXS公司向大家提供保證！
*的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率，而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。

倫琴實(shí)驗(yàn)室：400-100-9267 歡迎咨詢

上一個(gè)：環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測(cè)